黄子伦

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C-V测量技术的进展
《微电子学》1990年第4期48-51,70,共5页Edward H. Nicollian 黄子伦 
本文论述了可以同时进行高/低频电容测量的改进方法,采用这类测量技术可以避免先期方法带来的麻烦。
关键词：C-V电容 测量技术 电容测量仪器 
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