基于SVM的模拟测试生成的改进算法  

Improved analogue test generation algorithm based on SVM

作　　者：龙婷[1] 王厚军[1] 龙兵[1] 

机构地区：[1]电子科技大学自动化工程学院,四川成都610054

出　　处：《系统工程与电子技术》2011年第6期1425-1428,共4页Systems Engineering and Electronics

基　　金：国家自然科学基金(60934002;61071029);总装预研基金(9140A16060409DZ02);电子科大人才计划(Y02018023601059)资助课题

摘　　要：在一些测试生成算法中,通过数/模和模/数转换器将模拟系统转换为离散数字系统,使得测试生成和响应分析在数字信号领域进行。提出了一种基于支持向量机(support vector machine,SVM)的模拟测试生成算法,通过SVM解决采样空间的线性分类问题,生成的测试序列可直接作为激励信号作用于被测系统,通过输出响应即可判断是否故障。为了减少计算代价,采用一种非等间距方法压缩脉冲响应采样向量,在降低采样空间维度的同时保证了测试生成的有效性。In some methods of test generation,an analog device under test（DUT） is treated as a discrete time digital system by placing it between a digital-to-analog converter（DAC） and an analog-to-digital converter（ADC）.In this way the test patterns and responses can be performed and analyzed in the digital domain.A test generation algorithm based on the support vector machine（SVM） is proposed,and SVM is used for classification.This method uses the test patterns derived from the test generation algorithm as input stimuli,and the samples output responses of the analog DUT are applied for fault detection.In order to reduce the computational cost,this paper uses non-equidistant sampling to compress the impulse-response sample vectors.It ensures the efficiency of test generation when reducing the dimension of the sample space.

关 键 词：模拟系统 测试生成 分类 支持向量机 误分率 

分 类 号：TP306[自动化与计算机技术—计算机系统结构]