基于输出违例概率的时延向量测试质量评估  

Test Quality Evaluation for Delay Test Pattern Based on Output Violation Probability

作　　者：王杰[1,2] 梁华国[1] 李华伟[2] 闵应骅[2] 李晓维[2] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,电子科学与应用物理学院,安徽合肥230009 [2]中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,北京100190

出　　处：《电子学报》2011年第5期1031-1036,共6页Acta Electronica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(No.60876028);国家自然科学基金重点项目(No.60633060);国家自然科学基金面上项目(No.60776031);教育部博士点基金(No.200803590006);安徽省海外高层次人才基金(No.2008Z014);中国博士后科学基金(No.20080430050);高等学校博士学科点专项科研新教师基金(No.200803591033)

摘　　要：针对冒险引起的测试质量评估误差,本文提出了一种基于输出违例概率的测试质量评估方法.定义了到达时间窗口和输出违例概率的概念,使用输出违例概率来反映测试向量的小时延缺陷检测能力,有效地避免了忽略冒险引起的计算误差,从而准确的评估了向量对小时延缺陷的检测质量.实验结果表明,相对于基于输出偏移的国际同类方法,本文的评估方法不增加额外的时间开销;在其指导下筛选出来的向量具有更高的测试质量.A new test quality evaluation method based on output violation probability to reduce errors induced by hazards is presented.The concept of arrival time window is introduced and the concept of output violation probability is defined to accurately reflecting the pattern capability on SDD detection,which eliminates the errors of probability calculation caused by ignoring hazard.Experimental results show that the proposed evaluation method brings no extra run time overhead,and the selected patterns by this method can achieve higher test quality for SDD detection compared to the previous method based on output-deviation.

关 键 词：小时延缺陷 时延测试 冒险 测试质量评估 输出违例概率 

分 类 号：TP303[自动化与计算机技术—计算机系统结构]