检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《计算机工程》2011年第12期268-269,272,共3页Computer Engineering
基 金:国家自然科学基金资助项目(60773207);中国科学院计算机系统结构重点实验室基金资助项目
摘 要:自反馈测试方法TVAC在时序电路中的应用研究还处于起步阶段。为此,研究其在同步全扫描时序电路测试中的应用,提出2种测试结构,并对ISCAS89电路进行实验。实验结果表明,与加权伪随机方法和循环自测试方法相比,该方法可用较少测试矢量达到较高故障覆盖率。Test Vectors Applied by Circuit-under-test itself(TVAC) is a new Built-in Self-test(BIST) scheme. Two different TVAC structures for synchronous full scan sequential circuits are presented. Experimental results on ISCAS89 benchmark circuits demonstrate that, compared with the weighted-random-patteru test and Circular Self-test Path(CSTP) method, the TVAC scheme can reach higher fault coverage with smaller test vectors.
关 键 词:内建自测试 全扫描测试 加权随机测试 循环自测试路径 自反馈测试
分 类 号:TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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