基于FPGA逻辑分析仪的设计  

作　　者：刘慧[1] 朱勇[1] 

机构地区：[1]武汉纺织大学数学与计算机学院,湖北武汉430073

出　　处：《科技信息》2011年第17期110-110,93,共2页Science & Technology Information

摘　　要：20世纪70年代以来,伴随计算机技术、大规模集成电路、可编程逻辑器件、高速数据信号处理器的迅猛发展,各种数字系统的设计、开发、检测任务越来越多,也越来越复杂了。数字电路系统所处理的信息都是用离散的二进制来表示,常用"1"来表示高电平,"0"表示低电平,多个二进制位的组合构成一个数据,我们称这一领域是数据域;该领域测试技术即被称为数据域测试技术,简称数据域测试。

关 键 词：现场可编程门阵列 VERILOG HDL FIFO 只读存储 

分 类 号：TP332.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]