基于形态学处理的太阳能晶片计数研究  

Study on solar energy wafer counting based on morphology processing

作　　者：方超[1] 谭伟[1] 杜建洪[1] 

机构地区：[1]复旦大学信息科学与工程学院通信科学与工程系,上海200433

出　　处：《计算机工程与应用》2011年第20期178-180,217,共4页Computer Engineering and Applications

摘　　要：针对工业生产中太阳能晶片人工计数的难以实施,提出了运用数字图像处理技术的自动计数方法。通过对晶片叠层图像的纹理分析,提出了一种二值化计数方法,通过对二值图像的特殊的形态学处理后,得到一幅便于计数的图像。实验结果表明该算法有较高的计数精度,而且算法简单可行,具有实用价值。This article presents an automatic counting method using digital image processing to solve difficulties in manual Solar Energy Wafer（SEW） counting in the industry.By analyzing the texture, a morphology processing counting method is proposed.Experimental result shows that the algorithm is simple and feasible.

关 键 词：纹理特征 形态学处理 膨胀腐蚀 二值化 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]