航天科工一院测控公司喜获国际最高级别发明展银奖  

出　　处：《计算机测量与控制》2011年第7期1649-1649,共1页Computer Measurement &Control

摘　　要：本刊讯：在4月28日~5月8日举行的第110届巴黎国际发明展览会上,中国航天科工集团公司一院测控公司的专利项目＂多总线VISA库系统＂首次代表中国航天科工参展,并一举夺得国际最高级别发明银奖。＂多总线VISA库系统＂是一种多总线仪器VISA库系统,立足于自主设计的总线控制器,通过提供统一的。

关 键 词：中国航天科工集团公司 发明 国际 测控 VISA库 银 总线控制器 专利项目 

分 类 号：TP311.1[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]