一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法  

Low Cost Test Method Based on Scan Chain Disabling Technique

作　　者：刘鹏[1] 张云[1] 尤志强[1] 邝继顺[2] 彭程[1] 

机构地区：[1]湖南大学软件学院,长沙410082 [2]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082

出　　处：《计算机工程》2011年第14期254-255,258,共3页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60673085;60773207)

摘　　要：为进一步降低测试功耗及测试应用时间,提出一种基于扫描链阻塞技术且针对非相容测试向量的压缩方法。该方法考虑前后2个测试向量之间不相容的扫描子链,后一个测试向量可以由扫描输入移入若干位以及前一个测试向量的前若干位组合而成。实验结果表明,该方法能够有效减少测试应用时间,提升效率。For the test application time can be reduced effectively, this paper proposes an approach based on scan chain disabling technique, in view of incompatible test vector compression method. The incompatible sub-scan chain between two test vectors is explored, which the latter test vector can be obtained from ceIlain bits by its scan input and front certain bits of its former test vector. Experimental results show that this method reduces test application time effectively.

关 键 词：可测性设计 扫描链阻塞 低费用测试 确定性测试 

分 类 号：TN470.2[电子电信—微电子学与固体电子学] N945[自然科学总论—系统科学]