连续批计数抽样检验中的跳批抽样技术  

Kip-lot Sampling Technology of Continuous Lot for Inspection by Attributes

作　　者：丁文兴[1] 杨军[2] 

机构地区：[1]中国标准化研究院,北京100088 [2]北京航空航天大学,北京100191

出　　处：《标准科学》2011年第7期44-47,共4页Standard Science

基　　金："十一五"国家科技支撑计划重点项目"关键技术标准推进工程"课题"重要基础性技术标准研制"(2006BAK04A05)

摘　　要：文章介绍了跳批抽样的基本原理、适用范围、条件以及一般程序。文章主要对GB/T 2828.3《计数抽样检验程序第3部分跳批抽样程序》技术内容进行了解读和介绍,帮助实际应用者正确运用跳批抽样程序,以达到预期目的。This paper introduces the basic principle, application area,requirements and the general proce- dures of skip-lot sampling. The purpose of this paper is to give a general guide of the techniques in GB/T 2828.3, Sampling Procedures for Inspection by Attributes-Part 3： Skip-lot Sampling Procedures.

关 键 词：抽样检验 跳批抽样 资格得分 

分 类 号：F273.2[经济管理—企业管理]