通信卫星用GaAs微波场效应晶体管可靠性快速评价技术  

Rapid Estimation Technology of GaAs Microwave FET Reliability for Communication Satellite

作　　者：徐立生[1] 马素芝[1] 何建华 

机构地区：[1]电子十三所,石家庄050051

出　　处：《半导体情报》1999年第6期53-55,共3页Semiconductor Information

摘　　要：叙述了一种快速评价ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管可靠性的方法， 利用该方法对ＧａＡｓ微波功率场效应晶体管ＣＸ５６２This paper introduces a way of rapidly estimating GaAs microwave power FET reliability.Its used to estimate the reliability of GaAs power FET CX562.

关 键 词：微波 场效应晶体管 可靠性 通信卫星 砷化镓 

分 类 号：TN368.06[电子电信—物理电子学]