厚膜应变电阻的导电机理研究  被引量:1

A Study on Conductive Mechanism of Thick Film Strain Resistance

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作  者:潘晓光[1] 汤清华[1] 

机构地区:[1]华中理工大学电子科学与技术系,武汉430074

出  处:《压电与声光》1999年第6期453-456,共4页Piezoelectrics & Acoustooptics

基  金:华中理工大学校基金

摘  要:制备了不同表面电阻率的Ru基厚膜应变电阻浆料,研究了厚膜应变电阻的表面电阻率与电阻应变系数之间的关系,并对其导电机理与特性进行了分析。The thick strain resistive pastes of different resistivity were prepared. The relationship between the resistivity and the resistor-strain coefficient of the thick film strain resistor wasstudied. The conductive mechanism and characteristics of thick film strain resistor were analyzed.

关 键 词:厚膜应变电阻 导电机理 电阻浆料 

分 类 号:TM241[一般工业技术—材料科学与工程]

 

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