一种单片集成光电检测电路前置放大器的噪声性能分析与优化  

作　　者：尹洪剑[1] 

机构地区：[1]重庆电子工程职业学院电子信息系,重庆401331

出　　处：《硅谷》2011年第16期185-185,187,共2页

摘　　要：在光电检测电路中虽然前置放大器的增益可以做到足够大,但是在弱信号被放大的同时,噪声也被放大,而且放大器本身还要引入新的噪声。为使探测系统保持一定的输出信噪比,合理设计前置放大器噪声性能是十分重要的。对单片集成光电检测电路中的各种噪声来源与形成机制进行分析,结合计算机仿真探索优化前置放大器噪声性能的设计方法。

关 键 词：光电检测电路 单片集成电路 噪声性能 前置放大器 

分 类 号：TP212.14[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]