X线头影测量Coben分析法在安氏Ⅲ类错诊断中的意义  

作　　者：庄金良[1] 陈远萍[1] 

机构地区：[1]吉林大学口腔医院正畸科,吉林长春130021

出　　处：《口腔医学研究》2011年第7期639-640,共2页Journal of Oral Science Research

摘　　要：Coben分析法是1955年Coben提出的一种x线头影测量分析方法，在x线头颅定位侧位片上测量面部的深度和高度，是以线距测量为主的分析方法，通过各测量值相互间的关系来分析颅面结构的特征^（1）。冯小东等研究认为，Co-ben分析法在骨性安氏Ⅲ类错殆畸形的诊断、提供正确的矫治设计依据及颌面生长发育的研究上，比角度分析更直观，更容易理解，具有临床应用价值。本文将对Coben分析法在安氏Ⅲ类错黯诊断及制定矫治计划中的意义进行综述。

关 键 词：COBEN分析法 X线头影测量 安氏Ⅲ类 诊断 x线头颅定位侧位片 X线头影测量分析 颌面生长发育 临床应用价值 

分 类 号：R783.5[医药卫生—口腔医学]