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作 者:苏玉盛[1] 王红艳[2] 张琳瑛[1] 尚建文[1] 彭程[1]
机构地区:[1]首都医科大学宣武医院PET中心,北京100053 [2]北京中医药大学东直门医院核医学科,北京100007
出 处:《中国医刊》2011年第8期70-72,共3页Chinese Journal of Medicine
摘 要:目的利用正电子发射断层扫描(PET)和统计参数图(SPM)对短暂性脑缺血发作(TIA)进行分型;通过观察治疗后反应,探讨分型的临床意义。方法①选择临床诊断为TIA的患者86例(TIA组),正常对照组39例,2组均行^(18)F标记的氟代脱氧葡萄糖(^(18)F-FDG)脑PET显像,利用SPM对TIA患者进行分型。②从86例TIA患者中随机抽取31例行药物治疗(氯吡格雷+银杏叶)(治疗组),并于停药后1周内行第2次脑PET显像,利用SPM观察各型的治疗效果。结果①根据代谢减低的部位和程度,将TIA患者分为3种类型,即单侧单灶型(Ⅰ型),单侧多灶型(Ⅱ型)以及双侧多灶型(Ⅲ型)。②治疗组中,Ⅰ型治疗效果最好(20例经治疗后,代谢减低的范围和程度均出现明显好转,其中11例完全恢复正常)。Ⅲ型治疗效果最差(4例经治疗后,1例代谢减低的范围和程度未见改变,3例加重)。结论①利用SPM对PET、图像进行分析,可以将TIA患者分为3种类型,以Ⅰ型最多见。②对于Ⅰ型患者,可行药物治疗;对于Ⅱ型和Ⅲ型患者,尤其是Ⅲ型患者,需引起高度重视,必要时应行外科治疗以及血管内支架成型术,避免缺血性脑血管事件的发生。
关 键 词:短暂性脑缺血发作 正电子发射断层扫描 脱氧葡萄糖 统计参数图
分 类 号:R743.3[医药卫生—神经病学与精神病学]
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