片上网络通信架构的BIST测试方法  

BIST for Network-on-Chip Communication Architecture

作　　者：欧阳一鸣[1] 牛丽义[1] 梁华国[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009

出　　处：《电信科学》2011年第8期68-73,共6页Telecommunications Science

基　　金：国家自然科学基金资助项目(No.60876028);安徽省自然科学基金资助项目(No.090412034);安徽高校省级自然科学研究重点项目(No.KJ2010A269)

摘　　要：为了保证NoC(network on chip,片上网络)中IP核之间的正确通信,需要对片上网络通信架构进行测试。本文针对Mesh NoC的功能测试,提出了一种测试通信架构的BIST(built-in self test,内建自测试)方法。该方法在NI(network interface,资源网络接口)中添加BIST模块TPG(test pattern generator,测试向量产生器)和TRA(test response analyzer,测试响应分析器),利用TPG产生测试数据,TRA分析测试响应,来实现通信架构的测试过程。实验结果表明,该方法在增加面积开销较小的情况下,不仅降低了测试成本,还降低了测试时间。Network-on-chip communication architecture need be tested for ensuring proper communication between the IP cores in NoC.Against functional test for the mesh NoC,BIST for NoC communication architecture was proposed in the paper.The method need add BIST modules in NI,which were test pattern generator（TPG） and test response analyzer（TRA）,exploit TPG to generate test data and TRA to capture response in order to achieve test.The result shows that,the method,in the case of smaller area overhead,can reduce test cost and time.

关 键 词：片上网络 通信架构 功能测试 内建自测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]