综合孔径微波辐射计近场成像方法  

作　　者：张成[1] 吴季[1] 刘浩[1] 阎敬业[1] 

机构地区：[1]中国科学院空间科学与应用研究中心,中科院微波遥感技术重点实验室,北京100190

出　　处：《中国科学：技术科学》2011年第9期1225-1233,共9页Scientia Sinica(Technologica)

基　　金：国家自然科学基金资助项目(批准号:40671121,40701100,40801136)

摘　　要：随着数字集成技术的发展,综合孔径辐射计的应用越来越广泛,在近距离成像探测领域的应用需求也日益增长。由于近场条件下综合孔径成像机理发生变化,远场傅里叶变换法失效,必须建立新的近场成像算法。首先对近场可视度函数进行分析,指出了近-远场可视度函数的关联,在此基础上提出了基于面聚焦的广义逆数值求解近场成像方法。然后对点源目标和扩展目标进行成像仿真,并与相位修正傅里叶变换法对比,表明此方法的有效性和优越性。最后利用一维综合孔径辐射计开展实地外场成像试验,进一步验证了此方法的可靠性。

关 键 词：综合孔径辐射计 近场成像 数值方法 广义逆 

分 类 号：P237[天文地球—摄影测量与遥感]