安捷伦科技2011年数字电路测试峰会掀起新技术讨论热潮  

出　　处：《电子测量与仪器学报》2011年第8期745-745,共1页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

摘　　要：安捷伦科技于2011年7月19日在深圳举办年度数字电路测试峰会,与会的300位工程师掀起了一轮新技术讨论热潮,以两个领域话题最为引人注目,一是应用在移动便携式设备上的最新技术,包括MIPI D-PHY,MIPI M-PHY,MHL,LPDDR,SDUHS-I;一是高速串行接口最新动向,包括Thunderbolt,USB3.0,PCI-E 3.0,SATA/SAS 12Gbps;测试技术引起大家共鸣的除了芯片一级的技术创新外,大家最感兴趣的是探头连接技术的最新进展,会后,安捷伦科技将所有讲义放到网站上,供大家下载,短时间内成为安捷伦最热门的网页。

关 键 词：安捷伦科技 最新技术 电路测试 高速串行接口 便携式设备 技术创新 测试技术 连接技术 

分 类 号：TN43[电子电信—微电子学与固体电子学]