X射线在酞菁氧钛与金界面的剂量增强计算  

Calculation of X ray dose-enhancement-factor nearby titanyl phthalocyanine connected aurum metal interface

作　　者：周文平[1] 赵宝奎[2] 马英君[2] 

机构地区：[1]沈阳工程学院,辽宁沈阳110136 [2]吉林大学物理学院,吉林长春130021

出　　处：《分子科学学报》2011年第5期358-362,共5页Journal of Molecular Science

基　　金：沈阳工程学院博士点基金资助项目(LGBS-B0902)

摘　　要：用蒙特卡罗方法计算了金-酞菁氧钛界面的剂量增强系数随能量的变化关系及不同厚度的金和酞菁氧钛对剂量增强系数的影响.结果表明:当X射线能量为10～250 keV时,界面附近酞菁氧钛一侧存在不同程度的剂量增强,剂量增强系数最大值达41.7;在金厚度一定时,随酞菁氧钛厚度减小,剂量增强加大,剂量增强系数随能量增加会出现2个明显的峰值;随着金厚度的增加,相同厚度的酞菁氧钛内部,高能部分的剂量增强均有增加的趋势,而在射线能量相同时,由于射线的平均自由程的限制,金的继续增厚不会使酞菁氧钛侧剂量增强进一步增大.The dose-enhancement-factors nearby gold-titanyl phthalocyanine interface were calculated by Monte-Carlo method. The results show different dose-enhancement-factors in energy range from 10 to 250 keV and the maximum value equal to 41.7.There are two peaks revaluate its variety trend with the increasing of energy for a certain thick- ness of Au. Along with the thicking of Au, dose-enhancement-factors exhibit accretion for higher energy but no obvious change if the energy is confirmed for the same thickness of TiOPc.

关 键 词：有机半导体 界面 X射线 光电效应 剂量增强系数 辐射损伤 

分 类 号：O641[理学—物理化学]