短暂性脑缺血发作后短期进展为脑梗死的风险分析  

Analysis risk of cerebral infarction resulting from transient ischemic attack

作　　者：刘宏顺[1] 张春良[1] 顾莹辉[1] 

机构地区：[1]保定市第二医院神经内科,河北保定071051

出　　处：《中国临床医学影像杂志》2011年第9期648-651,共4页Journal of China Clinic Medical Imaging

摘　　要：目的:分析短暂性脑缺血发作(TIA)患者短期进展为脑梗死的危险因素。方法:回顾性分析68例住院TIA患者的临床资料和磁共振血管成像(MRA)检查结果,其中男46例(67.6%),女22例(32.4%),年龄17～85岁,平均(59.15±14.05)岁,按ABCD2评分标准给予评分,观察TIA后2d和7d脑梗死的发生率,并分析ABCD2评分、颅内动脉病变与TIA后短期脑梗死发生的关系。结果:TIA后37例(61.7%)患者于7d内发生脑梗死,其中在2d内发生脑梗死的24例(40%);ABCD2评分与TIA后2d和7d脑梗死发生率之间有直线相关关系,ABCD2评分越高,脑梗死的发生率越高(P<0.001);有颅内动脉病变的TIA患者在2d和7d脑梗死的发生率比无颅内动脉病变的患者明显增高,差异有统计学意义(P<0.01);在年龄≥60岁、血压≥140/90mmHg、症状持续时间≥10min、高血压史、颅内动脉病变的患者中脑梗死的发生率明显增高(P<0.05),而在单肢无力、语言障碍不伴无力、症状持续时间<10min、糖尿病的患者中脑梗死的发生率无明显增高(P>0.05)。结论:ABCD2评分法有一定的临床价值及预测性,可作为一种临床预测TIA患者短期脑梗死发生的简单评估方法;ABCD2评分结合磁共振血管成像表现能进一步提高预测的准确性。

关 键 词：脑梗塞 脑缺血发作 短暂性 磁共振成像 血管造影术 数字减影 

分 类 号：R743.31[医药卫生—神经病学与精神病学] R743.33[医药卫生—临床医学]