一种基于ARM Cortex微控制器的相位差检测方法  

Phase difference measurement based on ARM cortex MCU

作　　者：刘世国[1] 彭春荣[1] 

机构地区：[1]中国科学院电子学研究所传感技术国家重点实验室北方基地,北京100190

出　　处：《信息与电子工程》2011年第5期600-603,共4页information and electronic engineering

基　　金：863计划资助项目(2008AA042207)

摘　　要：针对周期信号之间的小相位差难以检测的问题,提出了一种基于ARM Cortex高性能微控制器,采用相位差放大处理技术的相位差检测方法,先使用放大器和比较器对初始信号进行处理,产生3个方波信号,然后利用ARM Cortex处理器I/O口的中断功能来检测相位差。根据本方法进行了系统的软件、硬件设计和实际信号测试,测试结果表明:信号在1 kHz时不确定度能达到2%。This paper presents a phase difference measurement method of two sine signals based on Advanced RSIC Machines（ARM） Cortex Micro Control Unit（MCU）.This measurement method firstly magnifies the phase difference,then it uses the interrupt function I/O port of ARM MCU to detect the phase difference.The hardware and software of the detecting system are designed and tested.The precision of measurement reaches 2% when the frequency of input signals is 1kHz during testing.

关 键 词：相位差 ARM Cortex处理器 微控制器 中断 

分 类 号：TN911.23[电子电信—通信与信息系统]