基于边界扫描技术的VLSI芯片测试系统的设计与实现  

Design and Implementation of a VLSI Chip Test System Based on Boundary-Scan Test

作　　者：孙东[1] 缪栋[1] 张庆雅[1] 

机构地区：[1]第二炮兵工程学院

出　　处：《现代电子技术》1998年第7期6-8,共3页Modern Electronics Technique

摘　　要：９０年代发展起来的边界扫描测试技术的推广应用引起测试设备和测试系统的重大变革，边界扫描测试技术正日益成为超大规模集成电路的主流测试技术。介绍一个基于边界扫描技术的ＶＬＳＩ芯片测试系统的设计思想、体系结构及硬件、软件的实现。With the development and application of boundary-scan test(BST) , great changement has occured in test equipment and system A VLSI chip test system based on boundary-scan test is presented

关 键 词：边界扫描 测试系统 VLSI芯片 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]