光线投射体绘制算法的一种快速采样方法  

作　　者：梁训东[1] 李斌[1] 刘慎权[1] 

机构地区：[1]中科院计算技术研究所CAD开放研究实验室,北京100080

出　　处：《计算机工程》1994年第S1期677-682,共6页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目

摘　　要：光线投射算法是数据场体绘制技术的一种重要方法,该算法一般采用三元线性插值在体元内进行点采样估计,这种方法的计算量大。本文提出了一种通过光线与体元两个交点处的体数据值线性采样的方法,减少了插值计算次数。分析了这种采样方法与三元线性插值方法的差异,证明这是一种可行有效的方法。

关 键 词：采样方法 光线投射算法 线性插值 体元 体绘制技术 数据场 插值方法 插值点 绘制速度 可视化系统 

分 类 号：TP391.4[自动化与计算机技术—计算机应用技术]