基于熵的磁瓦内表面起级缺陷检测与识别  

作　　者：徐光明[1] 

机构地区：[1]广东培正学院计算机科学与工程系,广东广州580130

出　　处：《数字技术与应用》2011年第12期176-177,共2页Digital Technology & Application

摘　　要：本文使用空域统计方法对纹理缺陷进行识别。首先锐化和增强缺陷图像。其次,应用熵原理计算基于局部范围的图像熵值矩阵,使用纹理基元对图像进行卷积运算,获得卷积矩阵;阈值二值化处理。对预处理图像进行轮廓跟踪,提取相关缺陷特征。根据给定的阈值进行缺陷检测和识别。通过MATLAB仿真实验验证,该方法能够稳定高效地对磁瓦内表面起级缺陷进行检测和识别。

关 键 词：磁瓦 起级缺陷 缺陷识别 纹理分析 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]