检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,太原030051
出 处:《单片机与嵌入式系统应用》2012年第1期71-73,共3页Microcontrollers & Embedded Systems
摘 要:引言 传统的存储设备虽然具有价格低廉的优势,但是在高温、高速、高冲击的测试环境中,往往存在设备存放空间有限、测试参数较多、采集速率高、环境复杂等因素。
关 键 词:数据存储系统 FLASH NAND 设计 存储设备 测试环境 测试参数 采集速率
分 类 号:TP333[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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