检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《微纳电子技术》2012年第1期68-68,共1页Micronanoelectronic Technology
摘 要:全国半导体设备与材料标准化技术委员会微光刻分技术委员会(筹)全体大会暨国家标准审定会于2011年11月24—25日在深圳市顺利召开,来自全国各地37个单位的55名代表参加了本次会议,参加会议的还有北京电子学会半导体委员会委员与《微纳电子技术》杂志社的代表。与会单位涵盖了国内微光刻技术、光掩模制造技术、微纳米制造技术与半导体掩模制造没备等领域的生产企业、科研院所、高等院校及用户单位。
关 键 词:标准化技术委员会 半导体设备 微光刻技术 国家标准 审定 材料 纳米制造技术 用户单位
分 类 号:TN305[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.170