一种用于FPGA互联资源测试的新方法  

作　　者：王林[1] 朱建华[1] 罗前[1] 

机构地区：[1]电子科技大学微电子与固体电子学院,四川成都610054

出　　处：《电子元器件应用》2012年第1期42-45,共4页Electronic Component & Device Applications

摘　　要：以基于静态随机存储器(SRAM)的现场可编程门阵列(FPGA)为例,在传统的三次测试方法的基础上提出了一种新颖的针对FPGA互联资源的测试方法。该方法运用了层次化的思想,根据开关矩阵中可编程互联点(PIP)两端连线资源的区别将互联资源进行层次化分类,使得以这种方式划分的不同类别的互联资源能够按一定方式进行叠加测试,这就从根本上减少了实际需要的测试配置图形和最小配置次数。最后,文章将文中的测试方法与传统的测试方法在最小配置次数、故障覆盖率等方面进行了一个简单的比较。

关 键 词：现场可编程门阵列 静态随机存储器 可编程互联点 测试配置图形 故障覆盖率 

分 类 号：TN791[电子电信—电路与系统]