基于扫描链阻塞技术的时延测试方法  

Delay Test Method Based on Scan Chain Blocking Technique

作　　者：王泽成[1] 尤志强[1] 

机构地区：[1]湖南大学软件学院,长沙410082

出　　处：《计算机工程》2012年第4期205-207,共3页Computer Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(60673085)

摘　　要：针对时延测试功耗和测试费用较高的问题,提出一种低费用的轮流捕获时延测试方法。采用扫描阻塞技术,将被测电路中的所有扫描单元分成多条子扫描链,使电路中每时刻只有一条子扫描链活跃。在进行故障测试时,通过阻塞一部分子扫描链,使扫描单元得到充分利用。实验结果表明,该方法能降低测试应用时间和测试数据量,且硬件开销较少。In order to solve the high test cost and high test power, the study proposes a low cost test method. Using scan chain blocking technique, all sequence elements are divided into N scan sub-chains and only one scan sub-chain is active at a time during scan test. Not all elements need to be active in test. The division of sub-chain makes some sequence elements inactive in test model and make full use of scan elements. Experimental result demonstrates that the method can drastically reduce test application time with a low cost on hardware.

关 键 词：时延测试 可测性设计 低费用测试 扫描链阻塞技术 

分 类 号：TP302.8[自动化与计算机技术—计算机系统结构]