曲率约束下的静态隐式曲面的粒子采样  

Curvature Dependent Particles Sampling of Static Implicit Surfaces

作　　者：王静[1] 赵秀阳[1] 刘明军[1] 

机构地区：[1]济南大学信息科学与工程学院,济南250022

出　　处：《计算机辅助设计与图形学学报》2012年第4期459-465,共7页Journal of Computer-Aided Design & Computer Graphics

基　　金：国家自然科学基金(60873089);山东省自然科学基金(ZR2010FM047;ZR2011FL016);山东省高校科技计划(J07Y123)

摘　　要：针对隐式曲面绘制时参数不易确定、误差不易控制的问题,提出一种基于曲率的静态隐式曲面的粒子采样方法.首先选取一个种子粒子,依据转动法对其他粒子进行初始化;然后根据粒子之间的静电排斥力和粒子反投影旋转法更新所有粒子的位置,达到粒子系统的相对稳定状态;再依据采样点的曲率改变粒子间的相互作用力,实现对隐式曲面的基于曲率的粒子采样.实验结果表明,该方法简单易行,粒子位置更新的精度可控,避免了大量参数调节,并且可以适用于复杂曲面.In the process of implicit surfaces rendering,the parameters adjustment is not effective,and the accuracy is beyond our control.We introduce an approach to sample static implicit surfaces depended on curvature.A seed particle,which is chosen first,initializes other particles.All particles are updated with the local electrostatic repulsion forces and reprojection,and they achieve a preliminary uniform state.By the local mutual forces varying with the curvature of the particles,the implicit surfaces get the final representations.The method is demonstrated to be effective,and can be suitable for complicated surfaces.The inaccuracy can be controlled in some state,and mass parameters adjustment can be avoided.

关 键 词：隐式曲面 粒子采样 静电力 曲率 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]