强电磁脉冲辐照效应下单片机系统研究  

作　　者：杜新林[1] 

机构地区：[1]装甲兵技术学院吉林长春130117

出　　处：《中国科技纵横》2011年第17期182-182,共1页China Science & Technology Overview

摘　　要：为研究强电磁脉冲对单片机系统的辐照效应，在GTEM室内进行了辐照效应实验。实验表明，在强电磁脉冲作用下，单片机系统会出现通矗出错、“死机”、数据采集误差增大和重启动等现象。本文在实验基础上，对单片机系统的各种效应进行了深入研究。

关 键 词：单片机 强电磁脉冲 电磁兼容 辐照效应 

分 类 号：TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]