减少自反馈测试硬件代价的两种方法  

Two Methods for Reducing the Area Overheads of Self-Feedback Testing

作　　者：邝继顺[1] 靳立运[1] 王伟征[1] 尤志强[2] 

机构地区：[1]湖南大学计算机与通信学院,长沙410082 [2]湖南大学软件学院,长沙410082

出　　处：《计算机研究与发展》2012年第4期880-886,共7页Journal of Computer Research and Development

基　　金：国家自然科学基金项目(60773207;60673085);中国科学院计算机系统结构重点实验室开放性课题基金项目

摘　　要：由被测电路自己施加测试向量的内建自测试方法把被测电路视为一种可利用的资源,而不仅仅是被测试的对象.通过将被测电路内部一些节点"反馈"连接到电路的输入端,被测电路可以在由外部加载初始测试向量之后,利用反馈顺序地产生并加载一组测试向量.对这种技术中的分组方法和反馈节点选取方法进行了改进,提出一种附加信息矩阵的面向多个特殊有向图的深度优先公共路径搜索方法和一种贪婪式反馈节点选取方法.对ISCAS85电路和MinTest测试集的仿真实验结果表明,这些方法可以有效减少硬件代价,并提高故障效率.A circuit-under-test can be regarded as a kind of available resource,not only a tested object,in self-feedback testing.By feedback connecting some of the interior nodes of a circuit-under-test to its input terminals,the circuit can generate and apply a test set serially after an initial vector being applied from the outside of the circuit.In this paper,the old grouping method and the feedback nodes assignments are improved.A depth priority algorithm with information matrixes for a common path in a number of directed graphs is presented.The experimental results on ISCAS85 benchmark circuits and MinTest test sets demonstrate that the proposed algorithm can reduce the extra area and improve the fault efficiency.

关 键 词：集成电路测试 测试向量 故障效率 内建自测试 路径搜索 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]