FPGA可配置资源测试方法研究  

Research on Test Technology for Virtex-E Series FPGAs

作　　者：刘倩[1] 吴丹[1] 章婷[1] 沈森祖[1] 

机构地区：[1]武汉数字工程研究所,武汉430074

出　　处：《宇航计测技术》2012年第1期65-68,共4页Journal of Astronautic Metrology and Measurement

摘　　要：FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一,随着FPGA的迅速发展,对FPGA的测试得到了广泛重视和研究,其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础,研究了基于93000集成电路测试系统的FPGA器件测试技术,为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。FPGA is a very important device which is being widely used in IC design and many other areas. With the rapid development of FPGAs, test technology for FPGAs is becoming more and more complicated. This paper takes XILINX Virtex XCV3OOE for example, studies the test technology for FPGA based on 93000 test system.

关 键 词：FPGA测试 可测试性设计 配置 测试向量 

分 类 号：TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]