ynopsys将HAPS纠错可见度提升100倍  

出　　处：《电子设计工程》2012年第10期188-188,共1页Electronic Design Engineering

摘　　要：全球领先的电子器件和系统设计、验证和制造软件及知识产权（IP）供应商新思科技公司日前宣布：为其HAPS？基于FPGA原型系统的用户推出新版的Deep Trace Debug深度追踪纠错软件。借助HAPS Deep Trace Debug,

关 键 词：HAPS 纠错 可见度 TRACE DEBUG 新思科技公司 原型系统 电子器件 

分 类 号：TN92[电子电信—通信与信息系统]