检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西安交通大学绝缘研究所电力设备电气绝缘国家重点实验室
出 处:《电力电子技术》2000年第1期52-54,共3页Power Electronics
基 金:国家自然科学基金
摘 要:硅器件表面在获得优化的终端设计后 ,还要采用合适的钝化层和保护材料进行表面保护。应用电荷分离和激光探针测定法研究了硅器件表面保护材料的带电规律 ,并研讨了对器件表面耐压及高温稳定性的影响 ,给出了对实际应用具有意义的结果。It is neccesary to protect the device surface with suitable passivation layer and protection materials after optimum turminal designing.The electrifying rules are researched by using charge separation and laser probe testing,and the influences of the withstand voltage of device surface and the stability at high temperature are investigated.The significant results for application are given.
分 类 号:TN304.12[电子电信—物理电子学] TM76[电气工程—电力系统及自动化]
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