元器件工艺环节中静电失效案例  

作　　者：侯雪川[1] 付建祖[1] 

机构地区：[1]航天科工防御技术研究试验中心,北京100854

出　　处：《质量与可靠性》2012年第3期35-37,共3页Quality and Reliability

摘　　要：结合两个失效分析案例,阐述了其中元器件因静电损伤而导致整个系统功能失效的原因及分析过程,并对实际工作中静电敏感器件的设计、防护、工艺控制、使用等提出建议。

关 键 词：元器件 静电失效 失效分析 

分 类 号：TN605[电子电信—电路与系统]