付建祖

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元器件工艺环节中静电失效案例
《质量与可靠性》2012年第3期35-37,共3页侯雪川 付建祖 
结合两个失效分析案例,阐述了其中元器件因静电损伤而导致整个系统功能失效的原因及分析过程,并对实际工作中静电敏感器件的设计、防护、工艺控制、使用等提出建议。
关键词：元器件 静电失效 失效分析 
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