基于实验教学的芯片检测装置的开发  

作　　者：吴芳友[1] 牛小燕[1] 

机构地区：[1]杭州电子科技大学电子信息学院,浙江杭州310018

出　　处：《科技风》2011年第24期24-25,共2页

基　　金：浙江省教育科学规划研究项目(SCG97);杭州电子科技大学2011年度高教研究立项课题(SYZC1105)资助

摘　　要：本文基于AT89C52单片机开发一种常用数字集成芯片的检测装置。该装置通过向被测芯片加入激励,获取响应并和预期正确结果相比较来检测其功能是否完好。测试结果表明,该装置可以取得较高的故障覆盖率,且成本低。

关 键 词：单片机 集成芯片 检测仪 

分 类 号：TP212[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]