磁共振弥散张量成像在重型颅脑损伤诊断中的应用  

作　　者：姚兴军[1] 王岳华[1] 丁正斌[1] 侯文仲[1] 邓光策[1] 曾敏敏[1] 

机构地区：[1]清远市人民医院神经外科,广东清远511518

出　　处：《中外医疗》2012年第20期173-174,共2页China & Foreign Medical Treatment

基　　金：清远市科技计划项目(2011B011112001)

摘　　要：目的探讨磁共振弥散张量成像(DTI)在重型颅脑损伤诊断中的应用价值。方法研究对象为2009年7月-2010年7月我院收治的68例重型颅脑损伤患者,实施DTI检查方法,与55例健康体检者进行对照分析。结果通过两组各ROI的FA值的比较发现,观察组sCC、gCC、LpIC、LgIC、RpIC、RgIC值均显著低于对照组,其差异均具有统计学意义(P<0.05);且创伤组LpIC、LgIC的FA值与GCS相关性显著(P<0.05)。结论 DTI应用于在重型颅脑损伤诊断具有操作简单、无创的优点,且其诊断确切,值得临床上推广应用。

关 键 词：磁共振弥散张量成像 重型颅脑损伤 应用价值 

分 类 号：R739.4[医药卫生—肿瘤]