检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李伟国[1] 崔碧峰[1] 郭伟玲[1] 崔德胜[1] 徐昕伟[1]
机构地区:[1]北京工业大学光电子技术省部共建教育部重点实验室,北京100124
出 处:《光学学报》2012年第8期206-209,共4页Acta Optica Sinica
基 金:国家863计划(2009AA03A1A3);国家科技支撑计划(2011BAE01B14)资助课题
摘 要:对GaN基蓝光功率型LED在老化前和老化期间施加反向人体模式静电放电(ESD),并对静电打击前后及老化前后的LED光学电学参数进行分析。实验结果及理论分析表明,ESD使LED芯片有源层及限制层中产生缺陷,最终导致电学特性及光学特性的变化。ESD给LED带来的损伤可在老化前期过程中被局部恢复,但随着老化时间推移,电参数漂移程度及光衰幅度不断增大,而老化过程中LED对ESD的敏感度增加,使LED抗ESD能力减弱。Blue GaN-based power LEDs are biased by negative human body mode electrostatic-discharge (ESD) before and during the aging time, and the characteristics of LEDs are analyzed before and after aging experiment and ESD stress. It is found that the generation of defects in active region and cladding layers after ESD stress could finally lead to degradation of LEDs. The defects induced by ESD could be restored partly in the early aging. However, these defects can cause parameters drift more seriously. Moreover, LEDs could be more sensitive to ESD stress and have lower antistatic ability during aging.
关 键 词:光学器件 LED 氮化镓 静电放电 电流-电压特性
分 类 号:TN364.2[电子电信—物理电子学]
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