基于IEEE P1687的可变扫描链设计  

Design of Flexible Scan-chain Based on IEEE P1687

作　　者：刘洋[1] 颜学龙[1] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程与自动化学院,广西桂林541004

出　　处：《计算机测量与控制》2012年第9期2357-2359,2380,共4页Computer Measurement &Control

摘　　要：在系统芯片SoC中,嵌入式仪器的应用越来越广泛;如何利用已经获得广泛应用的IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)实现对嵌入式仪器的访问成为一个新的问题;IEEE P1687(IJTAG)建议标准提供了一个连接TAP与片上嵌入式仪器的界面标准;其特点是在扫描链中插入SIB使得在嵌入式仪器网络设计和嵌入式仪器的访问中扫描链具有灵活可变的特性;介绍了IEEE P1687标准,分析了IEEE 1149.1在嵌入式仪器访问应用中的缺点及IEEE P1687的优势,并设计实现了SIB的功能,给出了P1687的单层与多层网络结构,并对所需功能进行了仿真验证证明方案可行。In the testing of system on chips （SoC）, Embedded instrument are becoming more widely used in test, debug and monitoring. How to use the widespread IEEE 1149.1 Standard Test Access Port as the interface for accessing embedded instrument becomes a new issue. The IEEE P1687 （IJTAG） standard proposal aims at providing a standardized interface between the IEEE Standard 1149. 1 test access port （TAP） and on-chip embedded instrument. A key feature in P1687 is to include Segment Insertion Bits （SIBs） in the scan-path to allow flexibility both in designing the instrument access network and in scheduling the access to instruments. This paper presents the IEEE P1687 standard, analyses the background of IEEE 1149.1 and prior work of IEEE P1687, designed the SIB, the flat and hierarchical architecture.

关 键 词：嵌入式仪器 IEEE P1687 IJTAG SIB 

分 类 号：TP206[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]