晶片倒边对晶体性能影响浅析  

作　　者：杜敏 吴敬军 

机构地区：[1]廊坊中电熊猫晶体科技有限公司

出　　处：《科技致富向导》2012年第29期411-411,共1页Guide of Sci-tech Magazine

摘　　要：本文根据实践数据，简要分析了AT切型SMD晶片滚筒倒边（又称圆边）参数与x’tal一些主要技术性能之间的相关性，探讨了倒边工序工序产品质量监控方法和通过调整倒边参数改善部分X’tal技术指标可能。

关 键 词：倒边量 晶体 

分 类 号：TS959.6[轻工技术与工程]