基于边界扫描的混合信号电路可测性结构设计  

Design of the testability structure of mixed-signal circuit based on boundary-scan

作　　者：苏波[1,2] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程学院,广西桂林5410041 [2]广西工商职业技术学院信息与设计系,广西南宁530003

出　　处：《电子技术应用》2012年第10期68-71,共4页Application of Electronic Technique

基　　金：广西科学研究与技术开发计划项目(桂科能05112011-7A3)

摘　　要：在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,设计并实现了符合标准的混合信号电路边界扫描可测性结构各组成部分,包括测试访问口控制器、数字边界扫描单元、模拟边界扫描单元、测试总线接口电路及测试寄存器;构建验证电路进行了测试验证。测试结果表明,所设计的混合信号电路可测性结构是可行的,并可以应用到混合信号电路中提高电路的可测试性。With intensive study on IEEE std 1149.4 and IEEE std 1149.1, a testability structure of mixed-signal circuit is designed and realized, which includes the TAP controller, the data boundary module, the analog boundary module, the test bus in- terface circuit and the test registers. The result of test indicates that the testability structure of mixed-signal circuit designed in this paper is feasible and can be applied in the mixed-signal circuits to enhance the testability of the circuits.

关 键 词：可测性设计 边界扫描 混合信号 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]