混合电路外壳引线局部镀金技术研究  被引量:3

Study of Selective Gold Plating Technique on Leads of the Hybrid Integreted Circuit

在线阅读下载全文

作  者:许维源[1] 马金娣[1] 

机构地区:[1]中国科学院电子学研究所,北京100080

出  处:《电镀与精饰》2000年第4期5-7,共3页Plating & Finishing

摘  要:混合电路外壳引线多、体积大 ,用整体镀金技术导致成本加大 ,而封装时只需引线镀金。采用外壳整体镀镍后引线部分镀金工艺可实现这一要求。但镍层的电极电位必须与金的电极电位相近 ,防止金被镍置换。研究给出了镀镍的方法和镀金液的配方 ,效果十分良好。The integral gold plating on the hybrid integrated circuit (HIC) package that has more leads and bigger volume will lead production cost to increase. In fact, gold only plated on the leads of HIC can meet the performance requirements. Selective gold plating after the general nickel plating in the whole package can realize this purpose. But the electrode potential of the nickel coating must be similar to that of gold, to prevent gold to be replaced out by nickel in the gold plating bath. An effective method of nickel plating and a satisfied formulation of gold plating both are given in this paper.

关 键 词:混合电路外壳 引线 局部镀金 镀金 集成电路 

分 类 号:TQ153.8[化学工程—电化学工业] TN450.52[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象