检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《集成电路应用》2012年第10期43-43,共1页Application of IC
摘 要:深圳市景尚科技日前推出首款IC测试产品“J100测试机”。该测试机最大支持4Sites并行测试,针对不同的被测IC和不同测试要求,该系统可灵活地匹配测试资源,同时也具备很强的扩展能力。J100的硬件系统基于PXI和USB总线来组织,采用模块化的仪器设计理念,用户可以灵活地配置系统资源,有效提升系统资源的利用率,提高测试效率,从而达到降低测试成本的目的。
关 键 词:测试机 模拟芯片 科技 硬件系统 USB总线 测试产品 并行测试 测试要求
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
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