检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王朝晖
机构地区:[1]河北远东哈里斯通信有限公司
出 处:《电子世界》2012年第23期57-58,共2页Electronics World
摘 要:作者参加研制的FAST电路板功能测试系统,是可编程的、快速、自动电路板功能测试设备,用于对各种型号电路板的各项功能和参数进行快速测试。FAST电路板功能测试系统采用了当今自动测试测量系统设计的主流技术:PXI总线技术、虚拟仪器技术和模块化设计,技术体制先进,应用范围广,具有开放的系统架构。本文详细介绍了FAST电路板功能测试系统的设计和实现。
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.7