检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:邢青青[1] 罗新斌[1,2] 黄秀琴[1] 贾建昇
机构地区:[1]苏州有色金属研究院有限公司,江苏苏州215026 [2]上海交通大学航空航天学院,上海200240
出 处:《有色金属加工》2012年第6期42-44,共3页Nonferrous Metals Processing
摘 要:缺陷定位是表面检测技术中进行缺陷分类的基础,在实际工程应用中有着重要的地位。本文介绍了一种基于图像背景值进行二值化,然后进行缺陷分割的自适应方法。通过软件平台Labview实现,给出了各个步骤及相应的测试图片。经现场测试证明这种方法抗噪能力极强,响应快、提取的缺陷定位精确。Defect location is the foundation of defect classification in surface inspection. It is important in reality application. In this paper there is a method of defect location based on image background value to binary image. It is implemented by Labview,giving the demonstration image of every step . The field test shows this method has a better immunity to the noise jamming of images, swift response and the defect extracted location precisely.
分 类 号:TH838[机械工程—仪器科学与技术]
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