在电子测试技术工程教育中,使用NI LabVIEW和NI ELVIS进行IC参数测试  

作　　者：Serge Demidenko Moi-Tin Chew Nhat Minh Doung Ye Chow Kuang Melanie Ooi 

机构地区：[1]RMIT国际大学越南分校

出　　处：《国外电子测量技术》2013年第1期9-11,共3页Foreign Electronic Measurement Technology

摘　　要：1引言 将NILabVIEW、NI教学实验室虚拟仪器套件II（NIELVISII）与易于使用、自定义的即插即用IC测试板结合，创建了一个用户界面友好且可编程配置的IC直流参数测试平台，为高等教育提供了测试中小规模集成电路芯片直流参数的动手实践平台。

关 键 词：NILABVIEW 电子测试技术 IC测试 ELVIS 工程教育 参数测试 用户界面友好 集成电路芯片 

分 类 号：TP314[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]