电子产品寿命评估关键技术的研究  

Research on Key Point of Lifetime Assessment of Electronic Equipment

作　　者：陈华平[1] 李辉[1] 张颖[1] 鹿文军[1] 温志英[1] 

机构地区：[1]深圳出入境检验检疫局,广东深圳510600

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2013年第2期49-52,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘　　要：发达经济国家陆续出台针对电子电气产品使用寿命的法规、条例和标准,这些技术壁垒极大地影响了我国电子产品的出口。对寿命评估方法的现状、寿命评估的数学模型以及加速测试的方法进行了详细的分析,并介绍了测试后续预测方法的研究现状。The technical regulations and standards about the operational lifetime of electronic products released by developed countries influence greatly on China＇s electronic products ＇export. A detailed analysis on the current situation and mathematical model of the lifetime evaluation, the accelerated life test and post-test prediction approach are introduced.

关 键 词：寿命评估 加速测试 神经网络 灰色理论 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统]