一种快速计算和优化关键面积提高成品率的方法  

A fast method for extracting and optimizing critical area to improve yield

作　　者：朱椒娇[1] 罗小华[1] 陈利升[1] 叶翼[1] 严晓浪[1] 

机构地区：[1]浙江大学电气学院超大规模集成电路设计研究所,浙江杭州310027

出　　处：《电路与系统学报》2013年第2期371-375,共5页Journal of Circuits and Systems

摘　　要：成品率驱动设计(DFY)已经成为集成电路设计的必然趋势。基于随机缺陷的DFY设计的主要目标是通过优化版图的关键面积来提高成品率。针对版图局部修改后关键面积的重新计算问题,提出了一种快速计算关键面积的方法,不仅能快速比较各种修改方案的优劣,还能利用计算速度的优势,快速得到最优的设计修改方案,极大的降低了DFY设计的计算时间成本,提高集成电路产品的成品率。Design for yield（DFY） has become inevitable trend in IC design.As for the yield related to random defect,the purpose of DFY is optimizing critical area of a design layout to improve yield.Aiming at the massive re-extraction of critical area after modifications to the layout,this paper proposes a new method to deal with this problem.The new critical area can be fast extracted and the best modification option can be fast determined,which results in a higher yield with less computational time cost of DFY flow.

关 键 词：成品率驱动设计(DFY) 关键面积 VORONOI图 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]