灿芯半导体USB2.0 OTGPHY通过USB-IF认证  

在线阅读下载全文

出  处:《集成电路应用》2013年第5期44-44,共1页Application of IC

摘  要:灿芯半导体(上海)有限公司近日宣布其基于中芯国际0.11微米工艺平台开发的USB2.0物理层设计(PHY)USB—IF的高速产品测试程序,并取得了USB—IF的高速产品商标。该USB2.0物理层设计同时支持器件和主机应用的On.The—Go(OTG)规范,可以用于所有需要USB2.0的相关产品,如实现数据存储的桥应用程序接口以及移动手持设备的SoC整合等。

关 键 词:USB2 0 USB-IF 半导体 0 11微米工艺 应用程序接口 认证 移动手持设备 产品商标 

分 类 号:TN304.23[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象