面向车身控制应用的8位MCUJTAG片上调试模块设计  

Design of On-chip JTAG Debug Module of an 8 Bit MCU for Body Control Module Applications

作　　者：邓冏[1] 王海欣[1] 黑勇[1] 

机构地区：[1]中国科学院微电子研究所,北京100029

出　　处：《科学技术与工程》2013年第16期4711-4716,共6页Science Technology and Engineering

基　　金：国家自然科学基金(61006023)资助

摘　　要：基于IEEE 1149.1标准,设计了面向车身控制的8位MCU的JTAG片上调试系统。该系统很好地支持断点与观察点设置、外部调试请求、内存和存储器访问等基本调试功能。在几乎不改动内核的基础上,解决了内核中编码长度和执行周期不同的指令,给片上调试带来的困难和挑战,实现了单步调试、指令插入等功能。通过提出的方法,只需保护现场PC值,避免了一系列现场保护措施,减小了硬件实现代价。According to IEEE Standard 1149. 1, this paper designs an on-chip JTAG debugging system for an 8 bit Body Control Module （BCM） MCU. The system supports basic debugging functions, including breakpoint and watches point setting, debug request, and access to registers and memory, etc. With hardly modifying the core, the challenge is resolved, which results from different instruction coding length and different running cycle, and achieves the functions of single-step and instruction-insertion. With the proposed method, the system does not need reserve any value but pc, reducing the hardware implementation cost.

关 键 词：车身控制 MCU 联合测试行动组 IEEE 1149 1 片上调试 单步调试 指令插入 

分 类 号：TP306.2[自动化与计算机技术—计算机系统结构]